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FIB-SEM 双束电子显微镜 蔡司
设备型号：Crossbeam 550
厂       家：蔡司
所属地区：安徽
  • 技术参数：

    主要功能：TEM 样品制备、微纳加工、截面分析、成分分析、原子探针制备，芯片修补和线路修改
    特色：EBSD，EDS，背散射
    核心技术参数：
    1.加速电压范围: ≥20V-30KV 且连续可调
    2.最大束流强度: ≥40nA
    3.在最佳工作距离分辨率:≤0.7nm @l5kV
    4.STEM 分辨率:≤0.6nm @30kV
    离子束系统
    1.加速电压范围:500V-30kV
    2.最大束流: ≥100nA
    3.交叉点分辨率:≤3nm@30kV;≤120nm @ lkV

    功能特色：

    样品要求：

    无磁性，小尺寸  最大样品尺寸： 8英寸

    应用领域：

    ☒EBSD ☒EDS ☒GIS ☒STEM ☒BSD

    服务范围：

    收费标准：

18301325784
技术负责人：杨工
米格实验室
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