1.分辨率: 二次电子图像:0.6 nm (15 kV),0.7 nm (1 kV);背散射电子像:1.5 nm (15 kV); 2.着陆电压范围为20V ~ 30 kV, 束流范围为0.8 pA ~ 100 nA(15 kV)、0.8 pA ~ 100 nA(2 kV)、0.8 pA ~ 100 nA(1 kV); 3. 具备STEM探头; 4. 配备有防样品被空气氧化的传输装置.
1. 二次电子、背散射电子成像;2.可以同时获取BF、DF以及HAADF图像;3.EDS能谱分析(点、线、面);
1.样品尺寸直接30 mm以内,厚度10cm以内;2. 无磁性
材料、化学化工、半导体、地质学、生物学、物理学等领域
1.新材料形貌分析;2. 能谱分析等